Сканирующий электронный микроскоп KYKY-EM6900
KYKY-EM6900 — это надёжный и проверенный растровый электронный микроскоп (СЭМ) с термоэмиссионным вольфрамовым катодом, предназначенный для высокоразрешающей микроскопии металлов, керамики, полупроводников, полимеров и других материалов.
Ключевые технические характеристики:
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Разрешение (SE) | 3 нм @ 30 кВ |
| Разрешение (BSE) | 6 нм @ 30 кВ |
| Увеличение | 8× – 300 000× |
| Ускоряющее напряжение | 0–30 кВ, непрерывная регулировка |
| Электронная пушка | Вольфрамовый катод, конструкция с откидной крышкой для удобной замены нити накала |
| Режимы работы | Высокий вакуум / низкий вакуум (10–270 Па) |
| Детекторы | Вторичные электроны (SE), обратно-рассеянные электроны (BSE) |
| Интерфейсы | Возможность подключения EDS, EBSD, CL, WDS и других аналитических приставок |
Области применения:
-
Микроструктурный анализ материалов
-
Фрактография и анализ разрушений
-
Полупроводниковая инспекция и контроль качества
-
Исследование полимеров, композитов и катализаторов
-
Биомедицинские и фармацевтические исследования
-
Геологоразведка и минералогия
✏️ Электронно-лучевая литография с бланкером
На базе СЭМ KYKY-EM6900 реализована система электронно-лучевой литографии (EBL), позволяющая создавать наноструктуры с субмикронным и нанометровым разрешением.
Ключевые возможности:
-
Преобразование СЭМ в лабораторный литограф для создания наноструктур
-
Позиционирование луча с нанометровой точностью на площади более 100 мм²
-
Управление электронным пучком через высокоскоростной электростатический бланкер (TTL)
-
Экспонирование резиста по виртуальному шаблону (форматы GDSII, DXF, ASCII, BMP)
-
Автоматическое и полуавтоматическое совмещение слоёв при многослойной литографии
-
Коррекция эффекта близости и моделирование проявления резиста
Управляющее программное обеспечение работает на Debian Linux, обеспечивая стабильность, гибкость настройки и полный контроль над процессами сканирования, экспонирования и записи изображений.
Области применения литографии:
-
Микроэлектроника и наноэлектроника
-
Создание 3D нано- и микроструктур
-
МЭМС, датчики и актуаторы
-
Прототипирование фотонных и плазмонных структур
🧪 Чистые комнаты и центрифуги
Все работы проводятся в чистых помещениях класса ISO 7–5, соответствующих стандарту DIN EN ISO 14644-1. Класс ISO 7 обеспечивает контроль количества частиц на уровне не более 352 000 частиц ≥0,5 мкм на кубический метр, что критически важно для полупроводниковых и нанотехнологических процессов.
Для подготовки образцов используется современное центрифужное оборудование, совместимое с работой в чистых комнатах класса ISO 7, что гарантирует:
-
Очистку и сепарацию наночастиц и коллоидных систем
-
Нанесение тонких плёнок резиста перед литографией
-
Высокую воспроизводимость результатов